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工業CT技術起源及發展
隨著制造業的迅速發展，對產品質量檢驗的要求越來越高，需要對越來越多的關鍵、復雜零部件甚至產品內部缺陷進行嚴格探傷和內部結構尺寸精確測量。傳統的無損檢測方法如超聲波檢測、射線照相檢測等測量方法已不能完全滿足要求。于是，催生了更先進、更方便的檢測技術誕生，ICT（Industrial Computed Tomography--簡稱工業CT）
工業CT（ICT）就是計算機層析照相或稱工業計算機斷層掃描成像。雖然層析成像有關理論的有關數學理論早在1917 年由J.Radon 提出，但只是在計算機出現后并與放射學科結合后才成為一門新的成像技術。在工業方面特別是在無損檢測（NDT）與無損評價（NDE）領域更加顯示出其獨特之處。因此，國際無損檢測界把工業CT 稱為最佳的無損檢測手段。進入80 年代以來，國際上主要的工業化國家已把X 射線或γ射線的ICT 用于航天、航空、軍事、冶金、機械、石油、電力、地質、考古等部門的NDT 和NDE，我國90 年代也已逐步把ICT 技術用于工業無損檢測領域。
按掃描獲取數據方式的不同，CT技術已發展經歷了五個階段（即五代CT掃描方式）
第一代CT，使用單源（一條射線）單探測器系統，系統相對于被檢物作平行步進式移動掃描以獲得N個投影值，被檢物則按M個分度作旋轉運動。這種掃描方式被檢物僅需轉動180°即可。第一代CT機結構簡單、成本低、圖像清晰，但檢測效率低，在工業CT中則很少采用。
第二代CT，是在第一代CT基礎上發展起來的。使用單源小角度扇形射線束多探頭。射線扇形束角小、探測器數目少，因此扇束不能全包容被檢物斷層，其掃描運動除被檢物需作M個分度旋轉外，射線扇束與探測器陣列架一道相對于被檢物還需作平移運動，直至全部覆蓋被檢物，求得所需的成像數據為止。
第三代CT，它是單射線源，具有大扇角、寬扇束、全包容被檢斷面的掃描方式。對應寬扇束有N個探測器，保證一次分度取得N個投影計數，被檢物僅作M個分度旋轉運動。因此，第三代CT運動單一、好控制、效率高，理論上被檢物只需旋轉一周即可檢測一個斷面。
第四代CT，也是一種大扇角全包容，只有旋轉運動的掃描方式，但它有相當多的探測器形成固定圓環，僅由輻射源轉動實現掃描。其特點是掃描速度快、成本高。
第五代CT，是一種多源多探測器，用于實時檢測與生產控制系統。源與探測器按120°分布，工件與源到探測器間不作相對轉動，這種CT技術難度大，成本高但較其他幾種CT效率有顯著提高。
上述五種CT掃描方式，在ICT機中用得最普遍的是第二代與第三代掃描，其中尤以第三代掃描方式用得最多。這是因為它運動單一，易于控制，適合于被檢物回轉直徑不太大的中小型產品的檢測，且具有成本低，檢測效率高等優點。
即采用第三代掃描方式，大扇角、寬扇束、全包容的檢測方式提高了檢測效率同時兼顧成本。強大的圖像處理功能能準確的識別被檢工件的多種缺陷，對各種缺陷進行分類標記和統計，防止操作人員因操作失誤而引起的漏叛和誤判。
